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アドミッタンス中文是什么意思

  • 导纳
  • 例句与用法
  • ここでは,本研究で用いたアドミッタンス法について簡潔に説明する。
    这里将对本研究使用的导纳法进行简单说明。
  • Gij+jBijはノードiとj間の伝達アドミッタンスである。
    Gij+jBij为节点i和j之间的传输导纳。
  • この電気容量を利用した方法を改良したものとしてRFアドミッタンスを利用した方法が存在する。
    目前存在利用RF导纳的方法,它是改良了利用该电气容量方法的一种方法。
  • 一方,アドミッタンス法は静電容量やコンダクタンスの周波数特性を測定する定常状態での評価法である。
    另一方面,导纳法是测量静电电容和电导系数的频率特性的稳态评价法。
  • したがって,本研究で粒界準位の電気的評価に用いたアドミッタンス法は粒界準位と機械的性質の関係を検討するのに有用なツールといえる。
    因此,在本研究中,晶界态的电学评价使用的导纳法可以说是探讨晶界态与机械性质关系的有用工具。
  • アドミッタンス測定から求めた電子の熱的放出速度のアレニウス?プロットから,式(3)を用いて熱処理試料の粒界準位の各パラメータを算出した。
    通过由导纳测量求出的电子的热放出速度的阿雷尼乌斯图,利用式(3)计算出了热处理试料晶界态的各个参数。
  • アドミッタンス法はacコンダクタンスが深い準位からの電子の熱放出速度によって変化することを利用して深い準位の性質を評価する簡便な接合法である。
    导纳法是利用ac电导系数随来自深能级的电子的放热速度变化的性质,对深能级的性质进行评价的简便的连接法。
  • アドミッタンス法はDLTS法に比べて周波数応答アナライザ(FRA)などの装置で測定が可能であり,幅広い周波数領域をカバーしていれば室温でも粒界準位の評価が可能である。
    导纳法与DLTS法相比,能够利用频率响应分析仪(FRA)等装置进行测量,如果覆盖大范围的频率区域,在室温下也能够进行晶界态的评价。
  • 一般的にSi結晶粒界における活性な粒界準位を検出?評価する代表的な方法として,DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy)法?アドミッタンス法などがある。
    一般来说,对Si晶界的活性晶界态进行检测·评价的代表方法有DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy)法·导纳法。
  • アドミッタンス法から得られる粒界準位の深さEc?Egbとは,粒界準位から伝導帯への電子の熱的放出エネルギー△Eであり,厳密にはフォノンが介在しているため光学的な粒界準位深さ△Eoptとフォノン介在分△Eph(配位座標のずれ)の和に相当する。
    利用导纳法得到的晶界态的深度Ec-Egb是从晶界态向导带移动的电子的热放出能量△E,严格来说,由于声子的介入,因此相当于光学晶界态深度△Eopt与声子介入部分△Eph(配位座标的偏差)之和。
  • 其他语种释义
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